WEKO3
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パワー半導体素子の高性能化と信頼性評価に関する研究
http://hdl.handle.net/10367/9840
http://hdl.handle.net/10367/9840d0e84a63-23cf-41d9-a200-e606d8119a96
Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2017-11-27 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | パワー半導体素子の高性能化と信頼性評価に関する研究 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
資源タイプ | thesis | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
URI | ||||||
http://hdl.handle.net/10367/9840 | ||||||
http://hdl.handle.net/10367/9840 | ||||||
著者 |
堀内, 利一
× 堀内, 利一 |
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著者名(その他) | ||||||
姓名 | HORIUCHI, Toshikazu | |||||
学位授与番号 | ||||||
学位授与番号 | 34315乙第297号 | |||||
学位授与年月日 | ||||||
学位授与年月日 | 2001-09-14 | |||||
学位名 | ||||||
学位名 | 博士(工学) |